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Murata宣布正在開發支持USB 3.0的共模扼流圈
在2009年3月6日于東京舉行的“USB 3.0―SuperSpeed USB的沖擊”研討會上，村田制作所元件事業本部、EMI事業本部及商品開發部的熊谷英樹上臺介紹了該公司的USB 3.0共模扼流圈的開發情況。
2009-03-13
USB 3.0 共模扼流圈
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泰克公司榮獲英特爾首選優質供應商獎
日前榮獲英特爾公司2008年首選優質供應商(PQS)獎，以表彰泰克全年為英特爾所做出的巨大貢獻。泰克公司為英特爾提供優質的驗證測試設備，對英特爾的成功至關重要。與泰克一同獲得2008年PQS獎項的還有另外25家供應商。
2009-03-13
測試設備 英特爾 泰克 邏輯分析儀 示波器
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愛普科斯(EPCOS)輸出端過壓保護參考設計
雷擊產生的浪涌電壓會對電子設備帶來危害，EPCOS輸出端過壓保護參考設計ProShot 6000可保護家電免受電壓浪涌致命影響。
2009-03-13
雷擊 EPCOS 浪涌 電路保護 ProShot 6000 壓敏電阻 氣體放電管
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飛利浦MASTER LED憑出色設計和耐用性再獲兩大獎
近日，飛利浦MASTER LED獲得法國設計研究中心（Institute Francais du Design）及巴黎國際酒店及餐飲設備展（Equip''''''''Hotel Paris）榮譽。
2009-03-12
MASTER LED LED 飛利浦 照明
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iSuppli預測09年LED背光成為面板產業救世主
據市場研究機構iSuppli預測，2009年全球LED銷售額可望逆勢成長2.9%，增幅雖低于2008年的10.8%，但表現仍遠優于其它銷售額驟減的電子零組件產品類別。2009年，LED在背光領域的增長主要集中在液晶電視、筆記本電腦，特別是Netbook上的應用。
2009-03-12
LED背光 面板 液晶電視 筆記本 上網本
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USB 3.0測試標準將于09年6月底出臺
新一代USB“USB 3.0”的兼容性測試標準有望于2009年上半年出臺。參與測試標準制定的美國安捷倫科技（Agilent Technologies）表示，預定于09年6月底之前推出“Test Specification 1.0”。這是安捷倫公司的USB應用產品經理Jim Choate在09年3月6日于東京都內舉行的研討會“USB 3.0―SuperSpeed USB的沖擊”上...
2009-03-12
USB 3.0 測試儀器
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Si7137DP：Vishay新型P 通道功率MOSFET
日前，Vishay Intertechnology, Inc.（NYSE 股市代號：VSH）發布采用其新型 p 通道 TrenchFET第三代技術的首款器件 --- Si7137DP，該 20V p通道 MOSFET 采用 SO-8 封裝，具備業內最低的導通電阻。
2009-03-12
TrenchFET Si7137DP MOSFET 導通電阻 開關
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中國版WEEE出臺：電器廠商成本上升5%
在歐盟《關于報廢電子電器設備指令》(WEEE)全面實施近三年后，中國版WEEE出臺。條例對制造商有很多保護措施，而金融危機的到來讓該條例正式實施的時間推遲到2011年元旦。中國版的WEEE在多次征求意見和修改后對生產者采取了優惠的政策，但保留了“生產者負責制”。該法規有可能使電器制造商的成本上升5...
2009-03-12
中國版WEEE WEEE 關于報廢電子電器設備指令 廢棄電器電子產品回收處理管理條例
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CM1235/6：California Micro Devices兩款最新ESD保護器件
California Micro Devices宣布 XtremeESD(R) 系列新添兩款 ESD（靜電放電）保護器件CM1235 和 CM1236。這兩款器件都整合了獲獎的 PicoGuard XS 架構，該架構擁有整合的阻抗匹配和更高的 ESD 性能。
2009-03-11
CM1235 CM1236 ESD保護器件
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