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    泰瑞達張震宇:解讀異構集成和Chiplet時代下,測試行業的機遇與挑戰

    發布時間:2023-08-17 來源:泰瑞達 責任編輯:wenwei

    【導讀】2023年7月3日,中國 北京訊 —— 全球先進的自動測試設備供應商泰瑞達(NASDAQ:TER)宣布,受邀出席了SEMICON China 2023同期舉辦的“先進封裝論壇 - 異構集成”活動。在活動中,泰瑞達Complex SOC事業部亞太區總經理張震宇發表題為《異構集成和Chiplet時代下,芯片測試行業的機遇與挑戰》的精彩演講,生動介紹泰瑞達對于先進封裝,在質量和成本之間找到平衡和最優方案的經驗和見解。


    SEMICON China是中國最重要的半導體行業盛事之一,見證中國半導體制造業的茁壯成長。本屆“先進封裝論壇 - 異構集成”活動邀請全球產業鏈代表領袖和專家,共同探討先進封裝、異構集成的前沿技術、發展路線和產業生態,以及產業發展的機會。作為受邀嘉賓之一,張震宇先生通過演講向大家解讀在先進封裝不可阻擋的趨勢下,芯片測試行業面臨的機遇和挑戰,并分享如何通過與產業鏈的合作,采用更加靈活的測試策略。


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    泰瑞達Complex SOC事業部亞太區總經理張震宇


    測試“左移”還是“右移”是一個重要的選擇題


    在摩爾定律發展勢緩的大背景下,以Chiplet和異構集成為代表的先進封裝技術成為繼續滿足系統微型化、多功能化的方法之一。但與單芯片制造相比,Chiplet或3D先進封裝技術在設計、制造、封裝測試等環節都面臨著多重挑戰,其中尤其凸顯的一個是質量成本(Cost of Quality)的挑戰。特別是在綜合考慮KGD(Known Good Die)測試、最終測試和系統級測試(System Level Test)等更復雜測試流程時,優化總體質量成本的策略至關重要。


    為了降低成本,需要在制造流程的早期降低缺陷逃逸率。張震宇先生表示:“測試左移是把測試的重心向制造流程的早期傾斜,通過降低報廢成本而減少總體制造成本。”在實現“Known Good Die(KGD)”目標時,需要通過測試左移來增加晶圓測試覆蓋率,提高KGD的良率。


    然而在“向左”移動的過程中,測試成本會增加,缺陷逃逸率降低帶來的報廢成本降低的邊際效應卻在遞減。因此,適當的“右移”在制造過程中也是非常有必要的。測試右移是將更多測試移到制造流程的后期,在保證質量水平的同時,可以降低測試成本。通常在晶圓測試、任務模式測試或需要較長時間測試的掃描(SCAN)測試中可以“右移”。這些測試可以轉移到最終測試或系統級測試中,以實現在可控測試成本的同時達到需要的產品質量水平。


    在面對“左移”還是“右移”的選擇中,張震宇先生提到,優化測試策略是一個動態和持續的過程。大數據為測試策略的決策提供了依據。泰瑞達靈活測試方案和工具組合,可以在整個芯片制造流程中靈活調整測試策略,持續優化制造成本和保障質量。


    泰瑞達測試方案,優化先進封裝質量成本


    在先進封裝技術成為主旋律的時代下,僅僅減少缺陷逃逸率并不是優化經濟效益的全部手段。在制造的過程中,需要彌合從設計到測試之間的差距,使產品從設計,到制造、封裝和測試工程無縫合作,從而加速產品開發和量產。


    在此方面,泰瑞達推出了PortBridge工具,其可以降低測試開發過程中的不確定性,助力用戶快速定義、開發、調試、優化測試程序并投入生產。目前泰瑞達的UltraFLEX系列測試機已具備PortBridge功能。


    在演講的結尾,張震宇先生表示:“通過在早期減少缺陷逃逸率,并通過鏈接、管理和分析從設計、制造、封裝和測試產生的數據來優化成本,保障質量,快速實現量產目標是完全可行的。在這個過程中,EDA公司、DFT、運營、晶圓代工廠、封測廠、ATE/SLT供應商團隊之間還需共同努力、緊密合作,以推出更為行之有效的解決方案,滿足先進封裝的質量需求。”


    了解更多泰瑞達ATE測試系統信息,請訪問www.teradyne.com或聯系您當地泰瑞達銷售辦事處。


    關于泰瑞達:


    泰瑞達(NASDAQ:TER)以更快的速度向市場推出諸如智能設備,救生醫療設備和數據存儲系統等高質量的創新產品。其對于半導體、電子系統、無線設備等先進測試解決方案,可以確保產品按照設計標準運行。泰瑞達的工業自動化產品包括可協作的移動機器人,能夠幫助各種規模的制造商提高產能并且降低成本。2022年泰瑞達的營收達32億美元。如今,泰瑞達在全球擁有約6500名員工。更多信息,請訪問teradyne.com官網。Teradyne?是Teradyne, Inc.在美國和其他國家/地區的注冊的商標。



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