1 研究背景

在實際工作中存著大量由于傳導性電磁干擾問題而不斷出現(xiàn)，且未得到很好解決，EMC標準又可以在各國強制執(zhí)行，因此，如何診斷和控制電磁干擾噪聲，建立經(jīng)濟與技術一體化的智能處理系統(tǒng)就成為當下研究的熱點問題。為此，有關專家針對噪聲的診斷與處理建立了一個決策參數(shù)模型，通過對決策模型分析性和描述性的分析，綜合考慮到環(huán)境、技術、發(fā)展以及經(jīng)濟等各項因素，提出決策系統(tǒng)的重要性，同時，該模型是基于GONCALVES建立起來的案例分析與掃描模型，針對于某一領域進行分析，對噪聲進行自適應處理。

2 理論分析

在各種噪聲網(wǎng)絡中，MARDIGUIAN分離網(wǎng)絡的結構相對簡單，但旦由于寄生電容的存在，加上干擾差模的輸出特性，就會影響到其共模型噪聲，從而使得分離網(wǎng)絡共模抑制比增加。

　3 噪聲診斷

基于電流特征和干擾電壓為基礎，利用現(xiàn)代實驗設備，運用穩(wěn)定網(wǎng)絡原理，采用噪聲診斷技術進行分析，一般而言，在實際工作中，由于干擾所產生的機理有所不同，那么在實際抑制時其方法也會有所不同，主要用到以下幾種，一是射頻電波探頭，根據(jù)法拉第原理，對干擾電流信號進行測量，但是由于相關參數(shù)干擾的存在，導致測量準確度低，為此，可以將差模干擾和共模干擾相分離，從而獲得相應的值；二是模態(tài)分離，區(qū)一體以一種帶中心軸、相對簡單的射頻變壓器為核心，對模態(tài)信號進行測量，以提高網(wǎng)絡的識別性能，但是由于受到10-20DB衰減，為此，需要進一步提高分離網(wǎng)絡的性能。
　4 分離網(wǎng)絡的實驗特性對比

在這里通過以下四種分離網(wǎng)絡為例進行說明，分別為SEE、PAUL、GUO、MARDIGUIAN等四種，對于網(wǎng)絡特性的實驗研究。

通過以上裝置對四種特性網(wǎng)絡進行實驗對比，發(fā)現(xiàn)隨著頻率的提高，網(wǎng)絡特性也會出現(xiàn)不同程度的衰減，與此同時，損耗也會有所減小，而相應的抑制比特性則出現(xiàn)大幅的下降，區(qū)一體，但是在工程應用中，當達到最高頻率時，插損特性與抑制特性之差可以保持在20DB，通過有效分離，從而控制工程精度要求，基于較小的雜散效應，與電路器件的布局進一步分辨其良好特性。

5 仿真分析

在這里以GUO和PAUL網(wǎng)絡為例進行進一步的研究，采用SPICE軟件進行電路仿真分析，在以上分析中，根據(jù)實驗結果，可以知道：隨著頻率的提高，網(wǎng)絡特性也會出現(xiàn)不同程度的衰減，與此同時，損耗也會有所減小，而相應的抑制比特性則出現(xiàn)大幅的下降，但是在工程應用中，CMRR特性下降最快，當達到最高頻率時，插損特性與抑制特性之差可以保持在20DB，通過有效分離，從而控制工程精度要求，都會對網(wǎng)絡性能造成影響，同時，在相應的測試條件下，還可以對網(wǎng)絡的性能進行分析。

　6 應用實例

在一個傳導噪聲問題的解決方案中，需要運用噪聲分離網(wǎng)絡測量噪聲，而在各種噪聲網(wǎng)絡中，MARDIGUIAN分離網(wǎng)絡的結構相對簡單，采用 LCD顯示，具有開機自檢、最高精度可達到1.5DB，但旦由于寄生電容的存在，加上干擾差模的輸出特性，就會影響到其共模型噪聲，從而使得分離網(wǎng)絡共模抑制比增加，同時，以電流特征以及干擾電壓為基礎，利用現(xiàn)代實驗設備，運用穩(wěn)定網(wǎng)絡原理，采用噪聲診斷技術進行分析，為此，在方案中，可以選用的網(wǎng)絡有優(yōu)化網(wǎng)絡、SEE網(wǎng)絡、PAUL網(wǎng)絡等，具體所選用的濾波器則有RC、濾波器、T型、L型等，根據(jù)指標的權重，進行進一步的細化處理，并在此基礎上，通過對決策模型分析性和描述性的分析，綜合考慮到環(huán)境、技術、發(fā)展以及經(jīng)濟等各項因素，以計算機系統(tǒng)和系統(tǒng)輔助設備進行傳導噪聲綜合處理，主要分為數(shù)字電路模塊、模擬電路模塊、電源模塊等，選定不同的信號，結合決策系統(tǒng)的分析功能，從而獲取差模信號和共模信號，并且采用高速RAM例行數(shù)據(jù)存儲，最后傳輸?shù)絇C 機，另外該控制方法還可以用于環(huán)境噪聲、品質控制、噪音工程、健康防治等各個方面，如辦公室、工廠、音響、交通道路、合之噪音測量等。

7 結語

總而言之，該模型是基于GONCALVES建立起來的案例分析與掃描模型，針對于某一領域進行分析，對噪聲進行自適應處理，并且通過以上裝置對四種特性網(wǎng)絡進行實驗對比，發(fā)現(xiàn)基于較小的雜散效應，與電路器件的布局進一步分辨其良好特性。