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    手機(jī)電磁兼容測試之電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

    發(fā)布時間:2013-03-15 責(zé)任編輯:Lynnjiao

    【導(dǎo)讀】本文針對手機(jī)電磁兼容測試的電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析,并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)概述

    電快速瞬變脈沖群產(chǎn)生的原理如下:當(dāng)電感性負(fù)載(如繼電器、接觸器等)在斷開時,由于開關(guān)觸點(diǎn)間隙的絕緣擊穿或觸點(diǎn)彈跳等原因,在斷開處產(chǎn)生的瞬態(tài)騷擾。當(dāng)電感性負(fù)載多次重復(fù)開關(guān),則脈沖群又會以相應(yīng)的時間間隙多次重復(fù)出現(xiàn)。這種瞬態(tài)騷擾能量較小,一般不會引起設(shè)備的損壞,但由于其頻譜分布較寬,所以會對移動電話機(jī)的可靠工作產(chǎn)生影響。

    該試驗(yàn)是一種將由許多快速瞬變脈沖組成的脈沖群耦合到移動電話機(jī)的電源端口的試驗(yàn)。試驗(yàn)脈沖的特點(diǎn)是:瞬變脈沖上升時間短、重復(fù)出現(xiàn)、能量低。該試驗(yàn)的目的就是為了檢驗(yàn)手機(jī)在遭受這類暫態(tài)騷擾影響時的性能。一般認(rèn)為電快速瞬變脈沖群之所以會造成手機(jī)的誤動作,是因?yàn)槊}沖群對線路中半導(dǎo)體結(jié)電容充電,當(dāng)結(jié)電容上的能量累積到一定程度,便會引起手機(jī)的誤操作。具體表現(xiàn)為在測試過程中移動電話機(jī)通信中斷、死機(jī)、軟件告警、控制及存儲功能喪失等。

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)
    圖題:電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)常見問題分析

    電快速瞬變脈沖波形通過充電器直接傳導(dǎo)進(jìn)手機(jī),導(dǎo)致主板電路上有過大的噪聲電壓。當(dāng)單獨(dú)對火線或零線注入時,盡管是采取的對地的共模方式注入,但在火線和零線之間存在差模干擾,這種差模電壓會出現(xiàn)在充電器的直流輸出端。當(dāng)同時對火線和零線注入時,存在著共模干擾,但對充電器的輸出影響并不大。造成手機(jī)在測試過程中出現(xiàn)問題的原因是復(fù)雜的,具體表現(xiàn)為以下幾方面。

    前期設(shè)計(jì)時未考慮電快速瞬變脈沖群抑制功能,沒有添加相關(guān)的濾波元器件,PCB設(shè)計(jì)綜合布線時也沒有注意線纜的隔離,主板接地設(shè)計(jì)也不符合規(guī)范,另外關(guān)鍵元器件的也沒有采取屏蔽保護(hù)措施等;
    生產(chǎn)廠在元器件供應(yīng)商的選擇上沒有選用性能可靠的關(guān)鍵器件,導(dǎo)致測試過程中器件老化或者器件失效,從而容易受到電快速瞬變脈沖的干擾;
    在整機(jī)生產(chǎn)組裝過程中,加工工藝及組裝水平出現(xiàn)的問題可能會導(dǎo)致產(chǎn)品一致性不好,個別送檢手機(jī)存在質(zhì)量問題;
    檢測過程中由于其他測試項(xiàng)出現(xiàn)問題導(dǎo)致整改,可能由于整改方案的選擇會影響到電快速瞬變脈沖群測試不合格。

    電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)相關(guān)問題的改進(jìn)建議

    針對電快速脈沖群干擾試驗(yàn)出現(xiàn)的問題,主要可以采取濾波及吸收的辦法來實(shí)現(xiàn)對電快速瞬變脈沖的抑制。

    (1)在手機(jī)設(shè)計(jì)初期就應(yīng)重點(diǎn)考慮抑制電快速瞬變脈沖群干擾設(shè)計(jì)。

    在PCB層電源輸入位置要做好濾波,通常采用的是大小電容組合,根據(jù)實(shí)際情況可以酌情再添加一級磁珠來濾除高頻信號,盡量采用表面封裝; 盡量減小PCB的地線公共阻抗值; PCB布局盡量使干擾源遠(yuǎn)離敏感電路; PCB的各類走線要盡量短; 減小環(huán)路面積; 在綜合布線時要注意強(qiáng)弱電的布線隔離、信號線與功率線的隔離。

    綜合布線是系統(tǒng)很重要的一個設(shè)計(jì)組成部分,一個糟糕的綜合布線格局很可能斷送一個設(shè)計(jì)精良的PCB的穩(wěn)定性; 關(guān)鍵敏感芯片需要屏蔽; 軟件上應(yīng)正確檢測和處理告警信息,及時恢復(fù)產(chǎn)品的狀態(tài)。

    (2)元器件的選擇上應(yīng)使用質(zhì)量可靠的芯片,最好做過芯片級的電磁兼容仿真試驗(yàn),質(zhì)量可靠的充電器、數(shù)據(jù)線及電池的選用可提升對電快速瞬變脈沖信號的抑制能力。

    (3)廠家在組裝生產(chǎn)環(huán)節(jié)中應(yīng)嚴(yán)把質(zhì)量關(guān),做好生產(chǎn)工藝流程控制,盡量保證產(chǎn)品質(zhì)量的一致性,減少因個別手機(jī)質(zhì)量問題帶來的測試不合格現(xiàn)象。

    (4)EFT測試過程中如出現(xiàn)問題,可采用在充電器增加磁環(huán)或者電快速瞬變脈沖群濾波器的方法進(jìn)行整改,選用磁珠的內(nèi)徑越小、外徑越大、長度越長越好。采用加TVS管的整改方法作用有限。

    (5)根據(jù)最新GB/T 17626.4-2008標(biāo)準(zhǔn)要求,重復(fù)頻率將增加100 kHz選項(xiàng),將會比5 kHz更為嚴(yán)酷,廠家應(yīng)及早重視進(jìn)行相關(guān)的電快速瞬變脈沖群測試防護(hù)工作。

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