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    取代被動(dòng)保護(hù)器件,鋰電池的電路保護(hù)還安全嗎?

    發(fā)布時(shí)間:2014-09-02 責(zé)任編輯:stone

    【導(dǎo)讀】智能手機(jī)及平板電腦等消費(fèi)電子的蓬勃發(fā)展催化了鋰離子電池的巨大需求,加速了鋰離子電池對(duì)其他化學(xué)電池的沖擊。由于,人們對(duì)于消費(fèi)電子超長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間的渴望,為獲得更高的電池容量和能量密度,就相對(duì)地也降低了鋰離子電池的安全應(yīng)用門限。于是,就要求鋰離子電池的電路保護(hù)必須更加可靠。

    智能手機(jī)及平板電腦等消費(fèi)電子的蓬勃發(fā)展催化了鋰離子電池的巨大需求,也加速了鋰離子電池對(duì)其他化學(xué)電池的沖擊。即使以現(xiàn)有的應(yīng)用市場(chǎng)計(jì)算,因產(chǎn)品的升級(jí)而導(dǎo)致的需求增長(zhǎng),也將使鋰離子電池繼續(xù)保持 25% 的增速。

    而另一方面,人們對(duì)于消費(fèi)電子超長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間的渴望,使得鋰離子電池行業(yè)需要不斷地提升充電電壓或使用不成熟的電極材料,以獲得更高的電池容量和能量密度,但這相對(duì)地也降低了鋰離子電池的安全應(yīng)用門限。這些都要求鋰離子電池的電路保護(hù)必須更加可靠。

    典型的鋰離子電池保護(hù)電路如圖 1,其核心包括了構(gòu)成一級(jí)防護(hù)的 IC+MosFET 的主動(dòng)保護(hù)方案以及二級(jí)防護(hù)的 PPTC。由于現(xiàn)在鋰離子電池保護(hù)板空間逐漸減小,加之 IC 集成度提升和成本壓力,通常人們認(rèn)為主動(dòng)保護(hù)已經(jīng)足夠及時(shí)和強(qiáng)大,部分設(shè)計(jì)者考慮取消二級(jí)防護(hù)或者采用雙 IC 保護(hù)方案,但這樣是否可行呢?


     典型的鋰離子電池保護(hù)電路圖 1:典型的鋰離子電池保護(hù)電路

    圖 1:典型的鋰離子電池保護(hù)電路
     
    要回答這個(gè)問題,我們需要全面的對(duì)比主動(dòng)和被動(dòng)保護(hù)方案的優(yōu)劣勢(shì),限于篇幅我們不在本文詳述。我們僅僅從電子行業(yè)的一種常見危害形式-靜電放電,來談?wù)劚粍?dòng)保護(hù)的重要性。

    靜電在日常生活中是十分容易產(chǎn)生的,人體摩擦感應(yīng)的靜電甚至可達(dá)到 15kV 以上。靜電及其放電可通過力學(xué)效應(yīng)、熱效應(yīng)、強(qiáng)電場(chǎng)效應(yīng)等對(duì)元器件造成破壞或損傷,既可能是永久性的(如功能喪失,不能恢復(fù)),也可能是暫時(shí)性的(如靜電放電產(chǎn)生的干擾使功能暫時(shí)喪失);既可能是突發(fā)失效,也可能是潛在失效,具有極強(qiáng)的隱蔽性、潛在性、隨機(jī)性及復(fù)雜性。

    作為鋰離子電池一級(jí)保護(hù)的 IC 和 MosFET 是靜電危害的重災(zāi)區(qū),其中 80% 的損失都是潛在性的,會(huì)導(dǎo)致電路功能暫時(shí)性失效。圖 2 是 ESD 對(duì) IC 和 MosFET 的破壞和損傷,鋰離子電池保護(hù)電路一旦遭受靜電放電,極有可能使其保護(hù)功能出現(xiàn)失效或隱患。

    ESD對(duì)IC和MosFET的破壞和損傷
     
    圖二:ESD對(duì)IC和MosFET的破壞和損傷

    一旦 IC 和 MosFET 的功能喪失或可靠性降低,鋰離子在充電和使用過程中極有可能由于過充電、短路及過放電等導(dǎo)致燃燒或爆炸。此時(shí)被動(dòng)保護(hù)器件,如 PPTC、MHP-TA 等的作用就極其重要了。由此可見,取消被動(dòng)保護(hù)器件或采用主動(dòng)方案取代被動(dòng)保護(hù)器件的設(shè)計(jì)都是不可取的,會(huì)大幅降低鋰離子電池保護(hù)的可靠性。

    全面的安全保護(hù)不僅不能取消 PPTC/MHP-TA 等過流過溫保護(hù)器件,還需要在接口中增加 ESD 防護(hù)器件,以最大限度的提升鋰離子電池保護(hù)方案的可靠性,TE 電路保護(hù)部的 PESD 和 SESD 靜電防護(hù)器件就是很好的選擇。

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