客戶的質疑是對的。為使GaN被廣泛使用，其可靠性需要在預期應用中得到證明，而不是僅僅通過硅材料配方合格認證（silicon qualification recipe）即可。由于長期的業界經驗和可靠性模型的驗證，人們現在可以接受將基于標準的測試用于硅材料的做法，不過也有例外的情況。功率金屬氧化物半導體場效應晶體管（MOSFET）是在20世紀70年代末開發的，但直到20世紀90年代初，JEDEC才制定了標準。目前尚不清楚JEDEC硅材料合格認證對GaN晶體管而言意味著什么。

 

標準滯后于技術的采用，但標準無需使技術可靠。這是對該項技術、其故障模式以及測試、合格標準和產品運行知識的深刻理解。在德州儀器（TI），我們要回歸基本面，創建一套能證明GaN合格的方法。JEDEC制定的標準將最終涵蓋這類測試，但在此期間，請參閱我們的白皮書：《一套證明GaN產品可靠性的綜合方法》。

 

與應用相關的合格標準特別重要。雖然JEDEC明確規定需要進行動態測試，但它并未規定條件，也未列出在我們這個行業不斷演進的應用和材料集。我們的大多數客戶將把GaN用于電源轉換，因此，硬開關轉換是一個與應用相關的基本事件。較之預燒板合格標準，這產生了迥然不同的應力，如白皮書中圖3、圖4所示。因此，我們已開發出一種符合JEDEC標準的測試工具（如圖1所示），以證明GaN用于硬開關時完全合格。我們還在實際工作條件下運行部件，以確定并修復新發現的現場故障機制。這使我們能證明GaN在電源轉換應用中是可靠的。

 

圖1：符合JEDEC標準的測試工具適用于感應開關應用測試

 

為GaN開發基于標準的測試需要花費大量時間，不過我們正在積極開發各種所需的測試，以證明GaN在電源轉換應用中的可靠性。TI會用客戶認為合理的方法測試GaN，即使在標準機構做到這一點之前。

 

 

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